长期从事微纳尺度光学精密测试理论与技术研究。主持国家和省部级项目14项，中国工程物理研究院、华为、国家电网等单位横向课题10余项，发表学术论文130余篇，授权中国发明专利24项，获全国优秀博士学位论文、教育部新世纪优秀人才、教育部技术发明一等奖、高等教育（研究生）国家级教学成果二等奖、天津市工程专业学位优秀教学成果奖一等奖等荣誉，当选中国仪器仪表学会、中国微米纳米技术学会、中国光学工程学会、中国机械工程学会、全国光电测量标准化技术委员会等学术组织的理事或委员；指导学生获得天津市优秀博士学位论文1篇，天津市优秀硕士学位论文1篇，天津市工程专业学位硕士研究生优秀学位论文1篇，以及各类国家级学生竞赛一等奖3项。

学习经历

1. 1998.9-2002.6 天津大学精仪学院测控技术与仪器专业 本科；
2. 2002.9-2007.6 天津大学精仪学院测试计量技术及仪器专业 硕博连读；
3. 2005.5-2007.3 奥地利林茨大学实验物理研究所，博士交流生；

工作经历

1. 2007.8-2010.8 天津大学光学工程博士后流动站 博士后；
2. 2007.12-2010.7 奥地利林茨大学实验物理研究所，博士后；
3. 2012.01-2012.02 奥地利林茨大学实验物理研究所 访问学者；
4. 2012.07-2012.08 德国慕尼黑工业大学生物物理研究所，访问学者；
5. 2010.08-2016.08 天津大学精仪学院 副教授；
6. 2016.09-2020.06 天津大学精仪学院 长聘副教授；
7. 2020.07-至今 天津大学精仪学院 英才教授

1. 1. 微纳测试技术及仪器
2. 2. 光镊及单分子力谱技术

　　ORCID: 0000-0001-6485-904X；ResearcherID: S-5084-2016

　　课题组网址：http://nanopto.dgquanwei.com/

科研项目

1. 1. 国家重点研发计划项目：光谱色散式膜厚探测器；
2. 2. 国家重点研发计划课题级项目：基于光谱反射高深宽比结构深度测量系统及关键技术；
3. 3. 国家重点研发计划课题级项目：高空间分辨率超薄膜层结构测量技术与仪器模组开发；
4. 4. 国家自然科学基金面上项目：晶圆级二维原子薄膜原位光学测量与可控制备方法研究；
5. 5. 国家自然科学基金面上项目：原子薄膜厚度的微变布儒斯特角偏光测量方法研究
6. 6. 国家自然科学基金国家重大科研仪器研制项目（参与）：二维材料的有机分子精准界面调控与器件集成一体化系统。

1. 1. Z.Z. Wang, C.Y. Yao, Z.R. Liu, J.C. Tang, H. Liu, C.G. Hu*. Research on Depth Measurement of Optically Transparent Glass Via Using Nondestructive Technology. Optics and Laser Technology, 2025, 192: 113619.
2. 2. C.P. Bai, X.L. Sun, Z.R. Liu, B.X. Liu, Z.Z. Wang, C.Y. Yao, W.F. Shen, C.G. Hu*. Decoupled Measurement of Silicon-based Film and Substrate Thickness by Hybrid Reflectance Spectroscopy. Optics and Laser Technology, 2025, 182: 112143.
3. 3. Z.Z. Wang, S.C. Huo*, F.Y. Wu, Y. Qu, X.M. Chen, F. Yang, C.G. Hu*. Adjustable low NA quasi-confocal reflectometry for ultra-high-aspect-ratio micro-structures. Optics and Laser Technology, 2024, 176: 110980.
4. 4. Y.L. Chen, C. Zhai, X.Q. Gao, H. Wang, Z.Z. Lin, X.W. Zhou, C.G. Hu*. Optical manipulation of ratio-designable Janus microspheres. Photonics Research, 2024, 12(6): 1239-1249.
5. 5. G.T. Ma, W.F. Shen*, Daniel S. Sanchez, Y. Yu, H. Wang, L.D. Sun, X.R. Wang, C.G. Hu*. Excitons Enabled Topological Phase Singularity in a Single Atomic Layer. ACS Nano, 2023, 17(18): 17751-17760.
6. 6. G.T. Ma, W.F. Shen*, S. D. Sanchez, Y. Yu, L.D. Sun, C.G. Hu*. Ultrasensitive in-plane excitons-dominated pseudo-Brewster angle of transition metal dichalcogenides monolayers. Applied Surface Science, 2023, 630: 157493.
7. 7. M.D. Guo#, Z.Z. Lin#, C. Zhai*, Y.L. Chen, X.W. Zhou, Z.Y. Chai, T. Guo, C.G. Hu*. Deep learning for precise axial localization of trapped microspheres in reflective optical systems. Optics Express, 2023, 31(8): 12397-12409.（Editor's Pick）
8. 8. C.Y. Yao, W.F. Shen, X.D. Hu, C.G. Hu*. Evaluation of the surface and subsurface evolution of single-crystal yttrium aluminum garnet during polishing. Applied Surface Science, 2023, 608: 155219.
9. 9. W.F. Shen#, Y. Yu#, G.T. Ma, Y.F. Huang, G.T. Ma, C.Y. Yao, L.D. Sun, C.G. Hu*. Origins and cavity-based regulation of optical anisotropy of α-MoO3 crystal. 2D Materials, 2023, 10(1): 015024.
10. 10. Y. Yu, W.F. Shen*, G.T. Ma, Q.Q. Luo, Y.F. Huang, H.Q. Lu, H.L. Wang, L.D. Sun, C.G. Hu*. Anomalous narrow-band optical anisotropy of MoO2 crystal in the visible regime. Applied Physics Letters, 2022, 121(26): 251901.
11. 11. C. Zhai, Y.J. Hong, Z.Z. Lin, Y.L. Chen, M.D. Guo, T. Guo, H. Wang, C.G. Hu*. Addressing the imaging extension of microsphere-assisted nanoscope. Optics Express, 2022, 30(22): 39417.
12. 12. W.F. Shen, Z.Y. Sun, S.C. Huo, C.G. Hu*. Direct Evaluating Optical Anisotropy of Few-layered Black Phosphorus during Ambient Oxidization. Advanced Optical Materials, 2022, 10(6): 2102018.
13. 13. C.Y. Yao, W.F. Shen, X.D. Hu, C.G. Hu*. Optical properties of large-size and damage-free polished Lu2O3 single crystal covering the ultraviolet-visible-and near-infrared (UV-VIS-NIR) spectral region. Journal of Alloys and Compounds, 2022, 897: 162726.
14. 14. C.Y. Yao, S.C. Huo*, W.F. Shen, Z.Y. Sun, X.D. Hu, X.T. Hu, C.G. Hu*. Assessing the quality of polished brittle optical crystal using quasi-Brewster angle technique. Precision Engineering, 2021, 72: 184-191.
15. 15. S.C. Huo, H. Wang, C.G. Hu*, C.Y. Yao, W.F. Shen, X.D. Hu, X.T. Hu. Measuring the Multilayer Silicon based Microstructure Using Differential Reflectance Spectroscopy. Optics Express, 2021, 29(3): 3114-3122.
16. 16. X.Q. Gao, Y.L. Wang, X.H. He, M.J. Xu, J.T. Zhu, X.D. Hu, X.T. Hu, H.B. Li*, C.G. Hu*. Angular Trapping of Spherical Janus Particles. Small Methods, 2020, 4(12): 2000565. （封面文章）
17. 17. C.G. Hu, H. Wang, Y.T. Shen, S.C. Huo*, W.F. Shen, X.D. Hu, X.T. Hu. Imaging layer thickness of large-area graphene using reference-aided optical differential reflection technique. Optics Letters, 2020, 45(15): 4136-4139.
18. 18. G.T. Ma, C.G. Hu*, S. Li, X.Q. Gao, H.B. Li, X.T. Hu. Axial displacement calibration and tracking of optically trapped beads. Optics and Lasers in Engineering, 2020, 134: 106285.
19. 19. W.F. Shen, C.G. Hu*, J. Tao, J. Liu, S.Q. Fan, Y.X. Wei, C.H. An, J.C. Chen, S. Wu, Y.N. Li, J. Liu, D.H. Zhang, L.D. Sun, X.T. Hu. Resolving the optical anisotropy of low-symmetry 2D materials. Nanoscale, 2018, 10(17): 8329-8337.
20. 20. W.F. Shen, C.G. Hu*, S.C. Huo, Z.Y. Sun, S.Q. Fan, J. Liu, X.T. Hu. Wavelength tunable polarizer based on layered black phosphorus on Si/SiO2 substrate. Optics Letters, 2018, 43(6): 1255-1258.
21. 21. C.G. Hu*, S.C. Huo, W.F. Shen, Y.N. Li, X.T. Hu. Reflectance difference microscopy for nanometre thickness microstructure measurements. Journal of Microscopy, 2018, 270(3): 318-325.
22. 22. C.G. Hu*, C.G. Su, Z.L. Yun, S.R. Wang, C.Z. He, X.Q. Gao, S. Li, H.B. Li, X.D. Hu, X.T. Hu. Real-time identification of the singleness of a trapped bead in optical tweezers. Applied Optics, 2018, 57(5): 1241-1246.
23. 23. W.F. Shen, C.G. Hu*, S. Li, X.T. Hu. Using high numerical aperture objective lens in micro-reflectance difference spectrometer. Applied Surface Science, 2017, 421: 535-541.
24. 24. S.C. Huo, C.G. Hu*, W.F. Shen, Y.N. Li, L.D. Sun, X.T. Hu. Normal-incidence reflectance difference spectroscopy based on a liquid crystal variable retarder. Applied Optics, 2016, 55(33): 9334-9340.
25. 25. C.G. Hu*, R. An, C.W. Zhang, H. Lei, X.D. Hu, H.B. Li, X.T. Hu. Design of a high quality optical conjugate structure in optical tweezers. Applied Optics, 2015, 54(6): 1410-1413.
26. 26. S.C. Huo, C.G. Hu*, Y.N. Li, X.T. Hu. Optimization for liquid crystal variable retarder-based spectroscopic polarization measurements. Applied Optics, 2014, 53(30): 7801-7806.
27. 27. C.G. Hu*, P.F. Xie, S.C. Huo, Y.N. Li, X.T. Hu. A liquid crystal variable retarder based reflectance difference spectrometer for fast, high precision spectroscopic measurements. Thin Solid Films, 2014, 571: 543-547.
28. 28. C.G. Hu, L.D. Sun, J. M. Flores-Camacho, M. Hohage, C.Y. Liu, X.T. Hu, P. Zeppenfeld*. A rotating-compensator based reflectance difference spectrometer for fast spectroscopic measurements. Rev. Sci. Instrum., 2010, 81(4): 043108.
29. 29. C.G. Hu, L.D. Sun, P. Zeppenfeld, X.T. Hu. Impact of lamp instability on rotating compensator based ellipsometry. Proc. of SPIE., 2009, 7506: 750617(1-10).
30. 30. C.G. Hu, L.D. Sun, Y.N. Li, M. Hohage, J. M. Flores-Camacho, X.T. Hu, P. Zeppenfeld. Retardation correction for photoelastic modulator-based multichannel reflectance difference spectroscopy. J. Opt. Soc. Am A., 2008, 25(6): 1240-1245.

奖励/荣誉

1. 2010年全国优秀博士学位论文
2. 2011年教育部新世纪优秀人才
3. 2013年教育部技术发明一等奖，“微结构光学测试技术及其应用”
4. 2014年天津大学青年教师讲课大赛二等奖
5. 2017年天津大学教学成果一等奖，“仪器仪表工程全日制专业硕士创新培养体系构建与实践”
6. 2019年天津市工程专业学位优秀教学成果奖一等奖，“仪器仪表工程专业硕士创新培养体系与实践”
7. 2022年天津市高等教育（研究生）教学成果特等奖
8. 2022年高等教育（研究生）国家级教学成果二等奖
9. 2023年中国仪器仪表学会教学成果奖一等奖

学术兼职

1. 中国仪器仪表学会集成电路测量仪器分会常务委员
2. 中国仪器仪表学会标准化工作委员会光电仪器技术委员会委员
3. 中国仪器仪表学会精密机械分会委员会委员
4. 中国微米纳米技术学会微纳米测量与仪器分会理事
5. 中国光学工程学会光电测试测量技术及应用专业委员会委员
6. 中国机械工程学会生产工程分会精密工程与微纳技术专业委员会委员
7. 全国光电测量标准化技术委员会委员
8. 全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测分技术委员会委员
9. 《光学 精密工程》第六届编委会委员